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PCB绝缘劣化试验
- 更新时间：2017-11-30
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涂小姐 女士（销售）
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已收藏新类离子急速移动试验装置
供多层印刷电路板绝缘劣化评价用 ECM-100系列
可对离子迁移・绝缘电阻值进行・高信赖性・率的评价。
从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的，
新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是的。
J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。
简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）
适用规格：JPCA-ET01-2001
项目 | 规格・性能・其他 | |||
筺 体 | 型式 | ECM-100/40-n (n:Channel数) | ECM-100/100-n (n:Channel数) | |
筺体型式 | 40CH型（大4计测组合） | 100CH型（大10计测组合） | ||
筺体寸法 | 265W×330.3D×405H（突起部除外） | 417.4W×330.3D×405H（突起部除外） | ||
消費电力 | 大约70VA（4计测组合实装時） | 大约130VA（10计测组合实装時） | ||
重量 | 大约16kg（4计测组合实装時） | 大约25kg（10计测组合实装時） | ||
使用电源 | AC100V 50/60Hz | |||
计测 组合 | 计测Channel数 | 10CH | ||
计测电阻值范围 | 2kΩ～10TΩ | |||
DCbias印加 | 电压范围 | 2范围 （1.0～30.0V，30.1～300.0V） | ||
电压范围设定 | 1组（5CH） | |||
电压级别设定 | Channel个别 | |||
设定分解能 | 0.1V | |||
设定精度 | ±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V | |||
大输出电流 | 700μA／CH | |||
DCbias计测 | 计测范围 | 2范围（0～33V、0～330V） | ||
计测精度 | ±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V | |||
计测分解能 | 0.1V～（整数+小数点以下１行表示） | |||
AD转换器 | 24bits⊿∑AD转换器／CH | |||
计测速度 | 16msec／10CH | |||
电流计测 | 计测方式 | CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式 | ||
计测范围 | 5范围（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA） | |||
计测范围设定 | CHANNEL个别指定 或者 自动范围 | |||
计测精度 | ±0.3％（F.S.） | |||
计测分解能 | 1pA～（有効数字4行表示） | |||
AD转换器 | 24bits⊿∑AD转换器／CH | |||
计测速度 | 16msec／100CH | |||
Ｃ Ｐ Ｕ 组合 | 制御Channel数 | 5～100CH（5Channel単位） | ||
数据收录 | 试验制御単位 | 1组（5CH） | ||
试验设定小时 | 1分～9999小时 | |||
收录间隔（定期） | 1分～60分 | |||
收录间隔（ECM发生時） | 16msec | |||
记录媒体 | Compact flashcard | |||
其他 | 主PC通信机能 | LAN接触口×1 | ||
环境试验机通信机能 | RS-232C接触口×2 | |||
外部输入1 | 接点输入×4 （联动装置，紧急停止制御可） | |||
外部输入2 | 电压输入(1-5V)×2，电流输入(4-20mA)×2 （温度・湿度记录可） | |||
自动校正 | bias输出補正，異常leak电流检测 | |||
计测线 | ||||
详细请联系：深圳市世纪天源仪器有限公司
